620.22 Б 874 Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учебное пособие для студентов по направлению подготовки "Прикладные математика и физика" / пер. с англ. ; Д. Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. - (Мир материалов и технологий). - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 : 131.89 р.
Кл.слова (ненормированные): микроструктура -- дифракционный анализ -- оптическая микроскопия Доп.точки доступа: Каплан, У. Экземпляры всего: 2 ОНЛ (Двинская 5/7, ЦБ) (2) Свободны: ОНЛ (Двинская 5/7, ЦБ) (2) |